本文利用正电子对金属微观结构的敏感性，测定了在不同淬火条件下低碳钢的正电子寿命谱，分析了在A

c3

以上不同温度加热淬火时，正电子寿命与淬火温度和组织的关系。实验在快慢符合正电子谱仪上进行，用

60

Co测得的仪器时间分辨率约300ps，道宽44ps，源强约20µCi，谱搜集时间1×10

4

秒，总计数3×10

5

左右。用微机进行了数据处理，程序按最小二乘迭代法拟合实验谱，并在单高斯函数拟合分辨函数的基础上作了近似处理。配合定量金相法，分析了在两相区加热淬火时，铁素体与马氏体混合组织对正电子寿命的影响（图1—3）。按计权平均

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计算了两相区的正电子湮没寿命值（式中，

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为计权平均的正电子湮没率；

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为混合相的计权平均正电子寿命；

λ

1

M

和

λ

1

F

分别为马氏体和铁素体的正电子湮没率；

V

M

和

V

F

分别为马氏体和铁素体的相对含量）。计算结果和实验结果比较吻合，结果表明：