曹必松, 郁伟中, 熊家炯, 等. 纯铁中的氢致微观缺陷和氢－缺陷系统的正电子寿命[J]. 核技术, 1985,08(8):13.

曹必松, 郁伟中, 熊家炯, 等. 纯铁中的氢致微观缺陷和氢－缺陷系统的正电子寿命[J]. 核技术, 1985,08(8):13. DOI：

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