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用正电子湮没寿命方法研究低温镀铁层的结构和晶粒
更新时间：2022-09-13
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    • 用正电子湮没寿命方法研究低温镀铁层的结构和晶粒

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    • 核技术   1985年08卷第8期

    • 纸质出版日期：1985-11

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  • 郁伟中, 曹必松, 陈皓明, 等. 用正电子湮没寿命方法研究低温镀铁层的结构和晶粒[J]. 核技术, 1985,08(8):12-13. DOI：

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