您当前的位置：
首页 >
文章列表页 >
用正电子湮没寿命谱法研究退火对镍镀层结构的影响
更新时间：2022-09-13
|

    • 用正电子湮没寿命谱法研究退火对镍镀层结构的影响

    • 暂无标题

    • 核技术   1985年08卷第8期

    • 纸质出版日期：1985-11

    移动端阅览

  • 方江陵, 陈荣钦, 姚士冰, 等. 用正电子湮没寿命谱法研究退火对镍镀层结构的影响[J]. 核技术, 1985,08(8):11-12. DOI：

  •  
  •  

0

浏览量

23

下载量

0

CSCD

文章被引用时，请邮件提醒。
提交
工具集
下载
参考文献导出
分享
收藏
添加至我的专辑

相关文章

基于遗传算法的正电子湮没寿命谱拟合
正电子湮没寿命谱指数函数拟合程序

相关作者

马敏阳
秦秀波
姜小盼
于润升
王宝义
吴伟明
熊兴民

相关机构

广西大学物理科学与工程技术学院
中国科学院高能物理研究所核分析技术重点实验室
中国科学院高能物理研究所
0