浏览全部资源
扫码关注微信
1.华侨大学
2.清华大学
纸质出版日期:1985-11
移动端阅览
章勇, 郁伟中, 曹必松, 等. 用正电子技术研究氢在Al、Cu中的行为[J]. 核技术, 1985,08(8):10-11.
章勇, 郁伟中, 曹必松, 等. 用正电子技术研究氢在Al、Cu中的行为[J]. 核技术, 1985,08(8):10-11. DOI:
DOI:
用阴极充氢方法对1000℃退火Cu、1000℃淬火Cu、600℃淬火A1进行充氢,分别测量了充氢前后各组样品的寿命谱,用
Positronfit
程序解谱。结果表明充氢前后,与缺陷浓度相对应的正电子寿命参数
I
2
随充氢电流密度的增加而有所起伏。
0
浏览量
28
下载量
CSCD
关联资源
相关文章
相关作者
相关机构