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清华大学
纸质出版日期:1985-11
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曹必松, 郁伟中, 顾秉林. 充氢变形铁的变温正电子寿命谱研究[J]. 核技术, 1985,08(8):10.
曹必松, 郁伟中, 顾秉林. 充氢变形铁的变温正电子寿命谱研究[J]. 核技术, 1985,08(8):10. DOI:
DOI:
选用两对纯度为99.99%的退火铁样品1号和2号,将1号拉伸6.3%,2号拉伸10%,然后将1号样品用电解充氢法充氢两小时,充氢电流密度为64mA/cm
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,将两组样品分别从室温逐步升温至250℃,测量各温度下样品的正电子寿命谱。测量结果用
positronfit
程序进行三寿命分量的分解。
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