高能离子弹性散射测定高温超导薄膜的元素配比

承焕生; 杨福家; 赵国庆; 张成腾; 吴士明; 要小未

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高能离子弹性散射测定高温超导薄膜的元素配比

研究论文 | 更新时间：2022-08-16

- 高能离子弹性散射测定高温超导薄膜的元素配比
- Determination of stoichiometry of high temperature superconducting thin films by elastic backscattering of high energy ions
- 核技术 1990年13卷第7期
- 作者机构：
  
  复旦大学
- 作者简介：
- 基金信息：
- DOI：
  中图分类号：
- 收稿日期：1988-11-17，
  
  纸质出版日期：1990-07-01
- 稿件说明：
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承焕生, 杨福家, 赵国庆, 等. 高能离子弹性散射测定高温超导薄膜的元素配比[J]. 核技术, 1990,13(7):392-395.

Huansheng Cheng, Fujia Yang, Guoqing Zhao, et al. Determination of stoichiometry of high temperature superconducting thin films by elastic backscattering of high energy ions[J]. Nuclear techniques, 1990, 13(7): 392-395.
承焕生, 杨福家, 赵国庆, 等. 高能离子弹性散射测定高温超导薄膜的元素配比[J]. 核技术, 1990,13(7):392-395. DOI：

Huansheng Cheng, Fujia Yang, Guoqing Zhao, et al. Determination of stoichiometry of high temperature superconducting thin films by elastic backscattering of high energy ions[J]. Nuclear techniques, 1990, 13(7): 392-395. DOI：

摘要

本文介绍了用8.8MeV氦离子弹性散射测定Y-Ba-Cu-O超导薄膜元素配比的一种新方法。由于在8.8MeV时

O（

）

O非卢瑟福共振散射截面比卢瑟福弹性散射截面大25倍，因而一次测量即能得到Y-Ba-Cu-O全部元素的配比。本方法也适用于Bi-Sr-Ca-Cu-O和T1-Ba-Ca-Cu-O等其它超导体系元素配比的测定。

Abstract

A technique for measuring stoichiometry of Y-Ba-Cu-O thin films with an accuracy of a few percent is described. This technique utilizes non-Rutherford backscattering of 8.8 MeV helium ions

which has an increased sensitivity for

O by a factor of 25 over Rutherford backscattering. The method is not only well suitable to Y-Ba-Cu-O thin film but also to Bi-Sr-Ca-Cu-O and T1-Ba-Ca-Cu-O thin films.

关键词

Keywords

references

承焕生等，低温物理学报， 9 （ 1987 ）， 201 。

J. A. Martin et al . , Appl. Phys. Let. 52 （ 1988 ）, 2177 .

J. F. Ziegler ed. , New uses of ion accelerators , Plenum Press , New York , p. 135 .

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