X射线荧光分析中蒙特卡罗方法的应用

李德华; 程业勋

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X射线荧光分析中蒙特卡罗方法的应用

研究论文 | 更新时间：2022-08-16

- X射线荧光分析中蒙特卡罗方法的应用
- Application of Monte Cario method in X-ray fluorescence technique
- 核技术 1990年13卷第3期
- 作者机构：
  
  1.成都地质学院
  2.中国地质大学
- 作者简介：
- 基金信息：
- DOI：
  中图分类号：
- 收稿日期：1988-03-28，
  
  纸质出版日期：1990-03-01
- 稿件说明：
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李德华, 程业勋. X射线荧光分析中蒙特卡罗方法的应用[J]. 核技术, 1990,13(3):139-147.

Dehua Li, Yexun Cheng. Application of Monte Cario method in X-ray fluorescence technique[J]. Nuclear techniques, 1990, 13(3): 139-147.
李德华, 程业勋. X射线荧光分析中蒙特卡罗方法的应用[J]. 核技术, 1990,13(3):139-147. DOI：

Dehua Li, Yexun Cheng. Application of Monte Cario method in X-ray fluorescence technique[J]. Nuclear techniques, 1990, 13(3): 139-147. DOI：

摘要

本文用蒙特卡罗方法模拟了人工Ni

Cr三元粉末样品中各元素特征X射线的强度，并和实验结果进行了比较。给出了一、二、三次荧光和康普顿、瑞利散射的强度比率，Si（Li）半导体探测器对于5—100keV射线的相对效率曲线，以及环状

238

Pu激发源在一定的探测装置条件下的等效入射角和出射角。

Abstract

Characteristic X-ray intensities of elements in artificial Ni-Fe-Cr ternary samples are simulated using the Monte Carlo method and compared with experimental results.The intensity ratios of primary secondary

and tertiary fluorescence

as well as Compton and Raly scattering are given. Tne relative efficiency curve of the Si (Li) detector for an energy range from 5 keV to 100 keV

and the equivalent incident and exit angles of an annular

238

Pu source under certain detection conditions are also calculated.

关键词

Keywords

references

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