X射线荧光吸收法测量薄层厚度的尝试

曹利国; 丁益民; 敖奇

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X射线荧光吸收法测量薄层厚度的尝试

研究论文 | 更新时间：2022-08-16

- X射线荧光吸收法测量薄层厚度的尝试
- THIN-LAYER THICKNESS GAUGING BASED ON X-RAY FLUORESCENCE ABSORPTION METHOD
- Nuclear Techniques 1989年12卷第10期
- 作者机构：
  
  成都地质学院
- 作者简介：
- 基金信息：
- DOI：
  中图分类号：
- 收稿日期：1989-01-24，
  
  纸质出版日期：1989-10
- 稿件说明：
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曹利国, 丁益民, 敖奇. X射线荧光吸收法测量薄层厚度的尝试[J]. Nuclear Techniques, 1989,12(10):580-586.

Liguo, Cao, Yimin Ding, Qi Ao. THIN-LAYER THICKNESS GAUGING BASED ON X-RAY FLUORESCENCE ABSORPTION METHOD[J]. 核技术, 1989, 12(10): 580-586.
曹利国, 丁益民, 敖奇. X射线荧光吸收法测量薄层厚度的尝试[J]. Nuclear Techniques, 1989,12(10):580-586. DOI：

Liguo, Cao, Yimin Ding, Qi Ao. THIN-LAYER THICKNESS GAUGING BASED ON X-RAY FLUORESCENCE ABSORPTION METHOD[J]. 核技术, 1989, 12(10): 580-586. DOI：

摘要

当特征X射线能量较小时

吸收曲线在薄层范围内斜率很大. 利用这一特点来测定薄层吸收体的厚度具有很高的灵敏度. 文章阐述了这一方法的原理、计算方法和实验技术. 实验数据证实了有关理论分析的正确性和可行性.

Abstract

For lower energy characteristic X-ray

the slope of absorption curve is much larger in the range of thin-layer. By making use of this advantage: the thickness of a thin-layer absorber can be gauged with a high sensitivity.

The principle of the method and the experimental results are described. The correctness and the feasibility of the method have be verified in this work.

关键词

Keywords

references

E. P. Bertin , Principles and practice of X-ray spectrometric analysis , Plenum , 1970 .

张家骅等，放射性同位素X射线荧光分析，原子能出版社，北京， 1981 年．

核素图表编制组，核素常用数据表，原子能出版社，北京， 1977 年.

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