多元素样品背散射分析的解谱程序

李文治; 王宇; 崔福斋; 李恒德

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多元素样品背散射分析的解谱程序

更新时间：2022-08-16

- 多元素样品背散射分析的解谱程序
- A computer program of backscattering analysis for multi-element samples
- 核技术 1989年12卷第2期
- 作者机构：
  
  清华大学
- 作者简介：
- 基金信息：
- DOI：
  中图分类号：
- 收稿日期：1987-04-06，
  
  纸质出版日期：1989-02
- 稿件说明：
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李文治, 王宇, 崔福斋, 等. 多元素样品背散射分析的解谱程序[J]. 核技术, 1989,12(2):99-104.

Wenzhi Li, Yu Wang, Fuzhai Cui, et al. A computer program of backscattering analysis for multi-element samples[J]. Nuclear techniques, 1989, 12(2): 99-104.
李文治, 王宇, 崔福斋, 等. 多元素样品背散射分析的解谱程序[J]. 核技术, 1989,12(2):99-104. DOI：

Wenzhi Li, Yu Wang, Fuzhai Cui, et al. A computer program of backscattering analysis for multi-element samples[J]. Nuclear techniques, 1989, 12(2): 99-104. DOI：

摘要

本文介绍了一个根据RBS实验谱计算多元素样品表面层原子浓度的程序。讨论了计算模型的特征、程序的功能和应用范围。计算中，将被分析样品表示成一系列等厚的小薄层，从表面开始逐层计算。因此，可以很容易地得到多元素样品内的浓度－深度分布轮廓。本程序用BASIC语言编制并可在IBM微机上运行。操作时实现人机对话。现已有几个规范程序可供使用。这些规范程序既简单又可信。

Abstract

A computer program to calculate atomic concentrations in the surface layer of multi-element solids from experimental RBS spectra is presented. The basic features of the computational model

its function and application scope are discussed in detail. The analysed sample is modeled as a series of layers each with the same thickness and the calculations proceed layer by layer from the surface

so that the concentration and the depth profile of each element can be obtained. The program is in BASIC and it is operated on the IBM microcomputer in the manner of man-computer conversation. A. few of simple but quite reliable routines are available.

关键词

Keywords

references

W. K. Chu et al . , Backscattering spectrometry , Academic Press , New York , 1978 , p. 59 .

P. Borgesen et al . , Appl. Phys . , A 27 （ 1982 ）, 183 .

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P. Borgesen et al . , Report IIP 9/42 , Max-Plank-Institut , Garching , 1983 .

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