离子束分析技术在抗核加固研究中的应用

朱光华; 丁训良

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离子束分析技术在抗核加固研究中的应用

综述 | 更新时间：2022-08-16

- 离子束分析技术在抗核加固研究中的应用
- The applications of ion beam analysis in the investigations of radiation hardening
- 核技术 1988年11卷第2期
- 作者机构：
  
  北京师范大学低能核物理研究所
- 作者简介：
- 基金信息：
- DOI：
  中图分类号：
- 纸质出版日期：1988-02
- 稿件说明：
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朱光华, 丁训良. 离子束分析技术在抗核加固研究中的应用[J]. 核技术, 1988,11(2):1-6,60.

Guanghua Zhu, Xunliang Ding. The applications of ion beam analysis in the investigations of radiation hardening[J]. Nuclear techniques, 1988, 11(2): 1-6,60.
朱光华, 丁训良. 离子束分析技术在抗核加固研究中的应用[J]. 核技术, 1988,11(2):1-6,60. DOI：

Guanghua Zhu, Xunliang Ding. The applications of ion beam analysis in the investigations of radiation hardening[J]. Nuclear techniques, 1988, 11(2): 1-6,60. DOI：

摘要

本文介绍了核辐射使电子元器件失效的机制以及离子束分析技术在抗核加固研究中的若干应用。

Abstract

The mechanism of radiation damage effects on electronic devices and the applications of ion beam analysis in the investigations of radiation hardening were presented in this paper.

关键词

Keywords

references

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