碘化汞探测器的稳定性

张光明

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碘化汞探测器的稳定性

更新时间：2022-08-16

- 碘化汞探测器的稳定性
- study of HgI₂ X-ray detectors and their applications
- 核技术 1987年10卷第3期
- 作者机构：
  
  中国科学院上海原子核研究所
- 作者简介：
- 基金信息：
- DOI：
  中图分类号：
- 收稿日期：1986-01-09，
  
  纸质出版日期：1987-03
- 稿件说明：
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张光明. 碘化汞探测器的稳定性[J]. 核技术, 1987,10(3):39-40,62.

Guangming Zhang. study of HgI₂ X-ray detectors and their applications[J]. Nuclear techniques, 1987, 10(3): 39-40,62.
张光明. 碘化汞探测器的稳定性[J]. 核技术, 1987,10(3):39-40,62. DOI：

Guangming Zhang. study of HgI₂ X-ray detectors and their applications[J]. Nuclear techniques, 1987, 10(3): 39-40,62. DOI：

摘要

低能光子与探测器物质的相互作用主要是光电效应。其光电吸收系数μ

是：

∝E

-7/2

ρZ

Abstract

A HgI

detector was designed with an active surface of 12mm

and thickness of about 300µm. The working condition is in 600V bias voltage

with pulse shaping time 3 µs using an uncollimated source and at room temperature the obtained energy resolution (FWHM) of the detector is 2.4 keV for 59.5 keV X-rays of

241

Am (4%) .

The applicability of mercuric iodide detectors is discussed.

关键词

Keywords

references

汪占河等，双等离子体离子源X射线能谱与空间分布测量，全国第一届激光和X射线诊断学术讨论会论文集第4册。

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