轻元素深度剖面的离子束分析方法

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轻元素深度剖面的离子束分析方法

知识介绍 | 更新时间：2022-08-16

- 轻元素深度剖面的离子束分析方法
- Ion beam anlytical methods for light element depth profile study
- 核技术 1987年10卷第2期
- 作者机构：
  
  四川大学原子核科学技术研究所
- 作者简介：
- 基金信息：
- DOI：
  中图分类号：
- 纸质出版日期：1987-02
- 稿件说明：
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郭华聪. 轻元素深度剖面的离子束分析方法[J]. 核技术, 1987,10(2):57-60,16,F4.

Huacong Guo. Ion beam anlytical methods for light element depth profile study[J]. Nuclear techniques, 1987, 10(2): 57-60,16,F4.
郭华聪. 轻元素深度剖面的离子束分析方法[J]. 核技术, 1987,10(2):57-60,16,F4. DOI：

Huacong Guo. Ion beam anlytical methods for light element depth profile study[J]. Nuclear techniques, 1987, 10(2): 57-60,16,F4. DOI：

轻元素深度剖面分析有着许多实际的应用，如：聚变堆第一壁的辐射损伤；结构材料的氢脆；氧化、贮氢材料、超导材料、太阳能材料中氢的分布等。本文介绍用于轻元素深度剖面分析的核反应法、质子弹性散射法、前散射符合法和弹性反冲探测法，并简单介绍这些方法的应用

[1]

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