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1.中科院上海原子核研究所
2.五二研究所
纸质出版日期:1985
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鲍锦荣, 华芝芬, 章家鼎, 等. 薄层活化法测定枪衬管微烧蚀量[J]. 核技术, 1985,08(6):30.
鲍锦荣, 华芝芬, 章家鼎, 等. 薄层活化法测定枪衬管微烧蚀量[J]. 核技术, 1985,08(6):30. DOI:
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本工作用薄层活化法测量枪管的烧蚀量,用回旋加速器产生的带电粒子(质子、氘子、
α
粒子等)辐照机件被烧蚀部位的表面,使其活化。由于带电粒子和机件表面原子的强烈作用而很快失去能量,所以带电粒子在机件内的射程很短,一般在10—200µm,即活化层很薄。
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