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中国科学院上海原子核研究所
纸质出版日期:1985
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林森浩. X射线荧光分析的α系数法校正[J]. 核技术, 1985,08(6):30-31.
林森浩. X射线荧光分析的α系数法校正[J]. 核技术, 1985,08(6):30-31. DOI:
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X射线荧光分析中对厚靶基体的吸收增强效应必需进行校正。
α
系数法是应用得很广泛的一种校正方法。本文在Lachance-Traill数学模型的基础上增加了待测元素对其自身的特征X射线荧光强度影响的校正项。
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