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中国科学院高能物理研究所
纸质出版日期:1985
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黄荣庆, 任国孝. CR-39塑料径迹探测器在不同蚀刻条件下的蚀刻性能测试[J]. 核技术, 1985,08(4):3-5.
Rongqing Huang, Guoxiao Ren. Determination of etching properties of CR-39 plastic track detector in different etching conditions[J]. Nuclear techniques, 1985, 08(4): 3-5.
黄荣庆, 任国孝. CR-39塑料径迹探测器在不同蚀刻条件下的蚀刻性能测试[J]. 核技术, 1985,08(4):3-5. DOI:
Rongqing Huang, Guoxiao Ren. Determination of etching properties of CR-39 plastic track detector in different etching conditions[J]. Nuclear techniques, 1985, 08(4): 3-5. DOI:
用
252
Cf裂片径迹直径法测定
Vg
,由
α
粒子径迹蚀刻曲线的斜率测定
V
,
d
=
/
g
为相对灵敏度。当
粒子的灵敏度低于6MeV时,由
粒子径迹出现时的剥蚀厚度H
0
来比较灵敏度。
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