用于轻便X荧光分析仪的等效模型校正法

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用于轻便X荧光分析仪的等效模型校正法

更新时间：2022-08-16

- 用于轻便X荧光分析仪的等效模型校正法
- Equivalent model correction method applied to portable X-ray fluorescence analyzers
- 核技术 1983年06卷第6期
- 作者机构：
  
  成都地质学院
- 作者简介：
  
  *章晔系研究生周四春的指导教师。
- 基金信息：
- DOI：
  中图分类号：
- 收稿日期：1982-10-29，
  
  纸质出版日期：1983-12
- 稿件说明：
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周四春, 章晔. 用于轻便X荧光分析仪的等效模型校正法[J]. 核技术, 1983,06(6):39-43,74.

Sichun Zhou, Ye Zhang. Equivalent model correction method applied to portable X-ray fluorescence analyzers[J]. Nuclear techniques, 1983, 06(6): 39-43,74.
周四春, 章晔. 用于轻便X荧光分析仪的等效模型校正法[J]. 核技术, 1983,06(6):39-43,74. DOI：

Sichun Zhou, Ye Zhang. Equivalent model correction method applied to portable X-ray fluorescence analyzers[J]. Nuclear techniques, 1983, 06(6): 39-43,74. DOI：

本文提出了一种适合于基体效应主要为吸收效应，并采用闪烁或正比计数器探头的携带式X荧光仪的散射校正模式，且建立了一种新的校正法——“等效模型”法。用该法在某些Sb、Sn、Cu、Zn矿区测量，得到了良好的结果。

This paper described a new absorption correction model by scattered radiation

which can be applied to portable X-ray fluoresence analyzes with scintillation or proportional counter. On the basis of this correction model

a new correction method called "equivalent model" has been established. With this method

we have measured Sb

Zn in some mines

and good results have been Obtained.

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