低能X射线在磁带磁层中的散射和吸收校正

黄梅芬

您当前的位置：

首页 >

文章列表页 >

低能X射线在磁带磁层中的散射和吸收校正

更新时间：2022-08-16

- 低能X射线在磁带磁层中的散射和吸收校正
- Scattering and absorbed correction of low energy X-ray in magnetic tape and magnetosphere
- 核技术 1983年06卷第6期
- 作者机构：
  
  一机部上海材料研究所
- 作者简介：
- 基金信息：
- DOI：
  中图分类号：
- 收稿日期：1982-03-25，
  
  纸质出版日期：1983-12
- 稿件说明：
移动端阅览
黄梅芬. 低能X射线在磁带磁层中的散射和吸收校正[J]. 核技术, 1983,06(6):35-38,16,73.

Meifen Huang. Scattering and absorbed correction of low energy X-ray in magnetic tape and magnetosphere[J]. Nuclear techniques, 1983, 06(6): 35-38,16,73.
黄梅芬. 低能X射线在磁带磁层中的散射和吸收校正[J]. 核技术, 1983,06(6):35-38,16,73. DOI：

Meifen Huang. Scattering and absorbed correction of low energy X-ray in magnetic tape and magnetosphere[J]. Nuclear techniques, 1983, 06(6): 35-38,16,73. DOI：

摘要

本文介绍同位素源X射线荧光在磁带磁层厚度测定中，散射和吸收校正的两种方法——双道计数法和斜率校正法。双道计数法采用双道脉冲幅度分析器，可将基体影响控制在±1%左右。斜率校正法已在磁带磁层在线测厚仪中使用，对录音磁带在线测定的准确度为±5%（置信度95%）。

Abstract

This paper describes two methods for the scattering and absorbed correction in a radioisotope source excited X-ray fluorescence analysis technique

that is two channel counting method and slope correction method. In the two channel counting method

the matrix effect can be controlled to about ±1% by using a two channel pulse height analyzer. The slope correction method has been applied to the thickness gauge for on line measurement of the thickness of a magnetic layer deposited on the tape. The accuracy of the measurement of the thickness is about ±5% (95% confidence level) .

关键词

Keywords

references

张家骅等，放射性同位素X射线荧光分析，原子能出版社， 1981 年，第 132 页。

黄梅芬等，核技术， 3 ， 19 （ 1981 ）。

Bradner D. Wheeler and Nancy Jacobus , Adv. X-ray Anal ., 22 , 395 （ 1979 ）.

A. Charles Ed , Applications of low energy X and gamma rays , Ziegler , 1971 , p. 91 .

浏览量

下载量

CSCD

文章被引用时，请邮件提醒。

提交

工具集

关联资源

用XRF技术测量聚氯乙烯塑料制品中铅的含量

头发中钙及微量元素含量的性别差异研究

钙、微量元素与妊娠关系的初步研究

白血病患者头发中钙及微量元素的初步研究

放射性核素激发X射线荧光法（XRF）直接测量人体甲状腺碘