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中国科学院上海原子核所
收稿日期:1981-04-04,
纸质出版日期:1982-10
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吴俊恒, 王玟珉, 张达明. 钽电容器电介质层厚度的测量[J]. 核技术, 1982,05(5):67.
吴俊恒, 王玟珉, 张达明. 钽电容器电介质层厚度的测量[J]. 核技术, 1982,05(5):67. DOI:
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金属钽片在阳极氧化处理过程中,在不同的电解液、电解电压及通电时间下,会形成不同厚度的Ta
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层,即可制成各种不同耐压规格的钽电容器。钽基片上的Ta
层厚度与阳极氧化工艺之间的数量关系过去不太清楚,用离子束背散射方法便可很好地解决这一问题,并且具有简便、可靠、无需标准样品、不破坏样品等优点。钽片的阳极氧化处理一般有两种方法。一种是先预赋能,然后再赋能;另一种是不预赋能而仅赋能。我们分别对赋能电压为30、60. 90、200V的钽片(不预赋能),以及对经50V预赋能后再经90、200、350V赋能和不再赋能的各种样品进行了背散射测试。
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