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用背散射技术测定超导材料Nb-Al和Nb-As样品的组分比及其深度分布
更新时间：2022-08-16
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    • 用背散射技术测定超导材料Nb-Al和Nb-As样品的组分比及其深度分布

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    • 核技术   1982年05卷第4期

    • 纸质出版日期：1982-08

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  • 王大椿, 朱光华, 吴瑜光, 等. 用背散射技术测定超导材料Nb-Al和Nb-As样品的组分比及其深度分布[J]. 核技术, 1982,05(4):119-120. DOI：

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