浏览全部资源
扫码关注微信
中国原子能科学研究院
纸质出版日期:1985
移动端阅览
李记民, 张桂琴, 舒培桂. X射线荧光分析中基本参数法的应用[J]. 核技术, 1985,08(6):41-42.
李记民, 张桂琴, 舒培桂. X射线荧光分析中基本参数法的应用[J]. 核技术, 1985,08(6):41-42. DOI:
DOI:
本文使用基本参数法,对合金钢样品不经化学处理,不使用参考标准,样品在
238
Pu同位素源激发的Si(Li)探测器组成的X射线荧光谱仪上进行测量,将测量结果送入同多道分析器联机的EMG666微机上进行计算,最后打印出结果。文中对入射角的变化、一次荧光效应、二次荧光效应和散射效应进行了研究;对核电站的合金钢样进行了分析,用标准样品检验方法的准确程度;分析结果(见表)表明,分析准确度相对误差小于±3%
方法精密度相对偏差小于± 6%。
0
浏览量
28
下载量
CSCD
关联资源
相关文章
相关作者
相关机构