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广东省测试分析研究所
纸质出版日期:1982-08
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钟红海, 许汉卿, 凌育远, 等. 用相对法和单一比较器法测定硅材料中的痕量元素[J]. 核技术, 1982,05(4):62-63.
钟红海, 许汉卿, 凌育远, 等. 用相对法和单一比较器法测定硅材料中的痕量元素[J]. 核技术, 1982,05(4):62-63. DOI:
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本工作采用相对法和以Au为比较器的单一比较器法分别测定了单晶和多晶硅中的Na、Au、Cu、Sb、Co、As、Cr、Ag等8种元素的含量,两种方法的结果相一致。
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