743-1型γ闪烁测厚仪

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743-1型γ闪烁测厚仪

更新时间：2022-08-16

- 743-1型γ闪烁测厚仪
- Type 743 1 γ scintillation thickometer
- 核技术 1982年05卷第2期
- 作者机构：
  
  中国科技大学
- 作者简介：
- 基金信息：
- DOI：
  中图分类号：
- 收稿日期：1980-07-05，
  
  纸质出版日期：1982-04
- 稿件说明：
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王明谦, 张芳. 743-1型γ闪烁测厚仪[J]. 核技术, 1982,05(2):44-45.

Mingqian Wang, Fang Zhang. Type 743 1 γ scintillation thickometer[J]. Nuclear techniques, 1982, 05(2): 44-45.
王明谦, 张芳. 743-1型γ闪烁测厚仪[J]. 核技术, 1982,05(2):44-45. DOI：

Mingqian Wang, Fang Zhang. Type 743 1 γ scintillation thickometer[J]. Nuclear techniques, 1982, 05(2): 44-45. DOI：

我们研制了γ闪烁测厚仪。其测量范围0~3.00mm，误差≤±0.03mm。一年多来现场运行试验证明仪器性能良好，满足了使用单位的要求。

This article introduces a γ-transmitting type thickness measuring instrument which consists of a NaI(Tl) scintillation counter and an

241

Am radioadive isotope source. The measuring range is equivalent to steel thickness of 0~3mm. The error is not more than ±0.03µm.

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