聚碳酸酯固体径迹探测器电化学蚀刻基本特性的研究

朱天成; 谢云瑞

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聚碳酸酯固体径迹探测器电化学蚀刻基本特性的研究

更新时间：2022-08-16

- 聚碳酸酯固体径迹探测器电化学蚀刻基本特性的研究
- A study of the basic properties of electrochemical etching track in polycarbonate foil
- 核技术 1982年05卷第1期
- 作者机构：
  
  中国科学院原子能研究所
- 作者简介：
- 基金信息：
- DOI：
  中图分类号：
- 纸质出版日期：1982-02
- 稿件说明：
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朱天成, 谢云瑞. 聚碳酸酯固体径迹探测器电化学蚀刻基本特性的研究[J]. 核技术, 1982,05(1):81-82.

Tiancheng Zhu, Yunrui Xie. A study of the basic properties of electrochemical etching track in polycarbonate foil[J]. Nuclear techniques, 1982, 05(1): 81-82.
朱天成, 谢云瑞. 聚碳酸酯固体径迹探测器电化学蚀刻基本特性的研究[J]. 核技术, 1982,05(1):81-82. DOI：

Tiancheng Zhu, Yunrui Xie. A study of the basic properties of electrochemical etching track in polycarbonate foil[J]. Nuclear techniques, 1982, 05(1): 81-82. DOI：

摘要

塑料高分子聚合物固体径迹探测器如聚碳酸酯（C

）

、硝化纤维素（C

）

等，本身含有碳、氮、氧成分。快中子同这些物质的原子核发生作用产生反冲核。反冲核是由快中子诱发的次级带电粒子，它们在聚合物上造成电离损伤。电离损伤区域同其它地方比较，具有较高的导电性。电化学蚀刻时，将聚合物薄膜置于一电压足够大的交流电场中，促使在电离损伤区域有较大的电流通过而发生有“选择性的”局部腐蚀，形成放电蚀坑即径迹。固体径迹探测器的电化学蚀刻技术，就是根据沿带电粒子径迹方向传导电能损失这一原理建立起来的。电化学蚀刻能使反冲核径迹扩大到肉眼可见的程度（直径可达100µm）。

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聚碳酸酯固体径迹探测器电化学蚀刻基本特性的研究

A study of the basic properties of electrochemical etching track in polycarbonate foil

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