Absolute determination of exposure for 60—250 kilovolt X-rays

Liu Shu-lin; Zhang Li-min; Wang Ling-zhen; Zhou Zhi-gen

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Absolute determination of exposure for 60—250 kilovolt X-rays

更新时间：2022-08-16

- Absolute determination of exposure for 60—250 kilovolt X-rays
- 60~250kV X射线照射量的绝对测定
- Nuclear Techniques 1981年04卷第1期
- 作者机构：
  
  Shanghai Institute of Testing Technology
- 作者简介：
- 基金信息：
- DOI：
  中图分类号：
- 收稿日期：1979-11-23，
  
  纸质出版日期：1981-02
- 稿件说明：
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Liu Shu-lin, Zhang Li-min, Wang Ling-zhen, 等. Absolute determination of exposure for 60—250 kilovolt X-rays[J]. Nuclear Techniques, 1981,04(1):31-37.

树林刘, 利民张, 玲珍王, et al. 60~250kV X射线照射量的绝对测定[J]. 核技术, 1981, 04(1): 31-37.
Liu Shu-lin, Zhang Li-min, Wang Ling-zhen, 等. Absolute determination of exposure for 60—250 kilovolt X-rays[J]. Nuclear Techniques, 1981,04(1):31-37. DOI：

树林刘, 利民张, 玲珍王, et al. 60~250kV X射线照射量的绝对测定[J]. 核技术, 1981, 04(1): 31-37. DOI：

摘要

Abstract

本文介绍60~250kV X射线照射量的绝对测量方法，给出各种修正因子的确定结果，估计复现伦琴的不确定度为1.8%，长期重复测量的标准偏差为±0.1%。

The X-ray exposures in unit of C.kg

-1

or Röentgen were measured by a parallel—plate free air ionization chamber. The plate distance was 20.9cm. The length of collector was 10cm. The correction factors were determined. The uncertainty of measurement was about 1.8% for 60~250kV X-rays. The long-term standard deviation was ±0.1%.

关键词

Keywords

references

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