质子激发X射线分析及其应用

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综述 | 更新时间：2022-06-23

- 质子激发X射线分析及其应用
- 质子激发X射线分析及其应用
- Nuclear Techniques 1979年02卷第2期
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- 收稿日期：1978-06-28，
  
  纸质出版日期：1979-06
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民乾李, 志祥陈, 康龙盛, 等. 质子激发X射线分析及其应用[J]. Nuclear Techniques, 1979,02(2):1-12.

民乾李, 志祥陈, 康龙盛, et al. 质子激发X射线分析及其应用[J]. 核技术, 1979, 02(2): 1-12.
民乾李, 志祥陈, 康龙盛, 等. 质子激发X射线分析及其应用[J]. Nuclear Techniques, 1979,02(2):1-12. DOI：

民乾李, 志祥陈, 康龙盛, et al. 质子激发X射线分析及其应用[J]. 核技术, 1979, 02(2): 1-12. DOI：

本文主要介绍质子激发X射线 (PIXE) 分析的物理基础和实验方法，提出了薄靶的单标准标定法和厚靶标定的简化公式。最后，介绍了我们将PIXE分析应用于环境、地球化学、生物医学、法学、考古等领域的若干结果。

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