H-Number（H

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）测定法基于外标准技术，当样品测定时，γ源自动置于样品瓶附近，外部γ射线作用于闪烁液产生康普顿电子，这些康普顿电子的行为象闪烁液中放射性样品发射的β粒子一样，而且在样品中的任何淬灭也对康普顿电子产生相应的淬灭。因为淬灭样品内有光衰减，所以淬灭样品曲线相对于无淬灭样品曲线产生“左移”（图1）。若样品淬灭越严重，其曲线将越往左移，即脉冲高度越被衰减。为了描述这“左移”现象，定义H

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为样品康普顿脉冲高度分布曲线左移的脉冲高度漂移值。