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溅射引发的共振解离谱学(
SIRIS
)是一种刚刚开始发展的新技术。它提供了一种超灵敏度和超选择性的分析手段,可以用来分析固体样品中除了氦和氖之外的周期表中所有的元素甚至同位素。它不仅可以做表面分析,同时也可以进行深度分布探测,是一种很有潜力的分析工具。
G. S. Hurst et al ., Phys. Rev. Lett ., 35 , 82 ( 1975 ).
J. E. Parks et al . , Thin Solid Films , 108 , 69 ( 1983 ).
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