在正电子寿命谱测量中，要处理的数据有两类——分辨函数及寿命谱数据。由于二者同属非线性函数的拟合问题，故可归于同一程序中解决。本程序就是利用最小二乘原理观点而设计的。处理分辨函数是先用二次曲线拟合原始数据，而后用单高斯线型对原始数据进一步拟合，从而得到仪器的分辨率等重要参数。处理寿命谱是按多指数拟合。其初值的给出有两种形式，一种是由程序用剥皮法求得初值；另一种是人为输入初值，并可根据计算过程偏差的变化，方便地对输入初值进行调整。