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本文通过寿命谱和多普勒增宽谱测量来了解正电子在不同结晶度
Teflon
中的湮没机制。同时为获得长寿命驻极体提供信息。用
FWHM
=440ps的寿命谱仪测量了由等温退火和淬火而获得不同结晶度的
Teflon
样品。用X衍射测得等温退火样品的结晶度为74%称
TEF
(c)
,而淬火样品几乎看不到结晶峰称
TEF
(
a
)
。用对
106
Ru的分辨率为1.14keV的高纯锗测量两种不同结晶度的多普勒增宽谱,算得
S
参数见表。
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