本文测定了45钢试样从820℃淬火并经200℃、400℃、600℃和740℃保温1小时后炉冷的正电子寿命谱。实验在一般的快慢符合正电子谱仪上进行。

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Na放射源的强度约为20µCi，仪器分辨率300ps左右，总计数约3×10

5

。寿命谱的数据处理在微型计算机上进行，程序在单高斯函数拟合分辨函数的基础上作了近似处理，所得结果如图1所示。由图1可见，对于淬火试样，

τ

1

和

τ

2

的数值比较接近，

I

2

＞

I

1

。随着回火温度的增加，

τ

1

减少

I

1

增加，

τ

2

增加

I

2

减少，这与回火温度增加位错密度和点阵静畸变减少以及空位集中形成空位团相关。