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中国科学院上海原子核研究所
Published:1985
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[J]. Nuclear techniques, 1985, 08(6): 30-31.
DOI:
[J]. Nuclear techniques, 1985, 08(6): 30-31. DOI:
X射线荧光分析中对厚靶基体的吸收增强效应必需进行校正。
α
系数法是应用得很广泛的一种校正方法。本文在Lachance-Traill数学模型的基础上增加了待测元素对其自身的特征X射线荧光强度影响的校正项。
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