Non-etching method of displaying tracks

Xiuhong Hao

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Non-etching method of displaying tracks

更新时间：2022-08-16

- Non-etching method of displaying tracks
- Nuclear Techniques Vol. 08, Issue 4, (1985)
- 作者机构：
  
  中国科学院原子能研究所
- 作者简介：
- 基金信息：
- DOI：
  CLC：
- Published：1985
- 稿件说明：
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Xiuhong Hao. Non-etching method of displaying tracks[J]. Nuclear techniques, 1985, 08(4): 3.
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Xiuhong Hao. Non-etching method of displaying tracks[J]. Nuclear techniques, 1985, 08(4): 3. DOI：

摘要

当带电粒子进入固体径迹探测器时，其能量将沉积在所经过的路径上而引起辐射损伤。例如，当裂变碎片进入聚合物薄膜时，在所经过的路径上，聚合物的链被打断，产生很多自由基。当用草酸、丙烯酸等不饱和的单体分子溶液浸泡薄膜时，这些单体分子就会沿粒子所经路径接枝到自由基上。这使损伤区得以成千倍地放大。但这时径迹仍不可见。然后，将薄膜浸入染料中，由于所用的单体分子容易着色，已接枝的部分被染上颜色，从而得到清晰的径迹。实验方法和结果如下：

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