我们采用美国CANBERRA公司SCORPIO-3000系统程序控制多道能谱仪、Si（Li）探测器和苏制УРС-50ИМ X光机，自制试样架，组成了一台X光管激发能散X荧光分析仪。用它对地质试样进行了能散X荧光分析。分析的初步结果为：Sr、As探测限低于3ppm；Rb低于10ppm；Br、Y低于30ppm。