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中国科学院上海原子核研究所
Published:1981-06
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玟珉 王, 达明 张, 俊恒 吴. 离子束散射分析[J]. 核技术, 1981, 04(3): 58-62.
DOI:
玟珉 王, 达明 张, 俊恒 吴. 离子束散射分析[J]. 核技术, 1981, 04(3): 58-62. DOI:
离子束散射技术得到广泛应用还只有十几年的历史。目前,在国际上它已广泛应用于电子材料、核能材料及材料科学等领域。它的主要优点是简单、快速、直观、可靠。它无需标准样品即可进行定量分析,无需腐蚀、剥离表层即可给出深度分布信息。
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