医用同位素<sup>125</sup>I放射性强度的测定

寿造 归; 渝生 梁; 功庆 王; 嘉辉 顾

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医用同位素¹²⁵I放射性强度的测定

更新时间：2022-08-16

- 医用同位素¹²⁵I放射性强度的测定
- 核技术 Vol. 04, Issue 2, (1981)
- 作者机构：
  
  Shanghai Institute of Nuclear Research, Academia Sinica
- 作者简介：
- 基金信息：
- DOI：
  CLC：
- Received：26 December 1979，
  
  Published：1981-04
- 稿件说明：
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寿造归, 渝生梁, 功庆王, et al. 医用同位素¹²⁵I放射性强度的测定[J]. 核技术, 1981, 04(2): 42-43.
DOI：

寿造归, 渝生梁, 功庆王, et al. 医用同位素¹²⁵I放射性强度的测定[J]. 核技术, 1981, 04(2): 42-43. DOI：

摘要

Abstract

125

I是发射低能γ的同位素，衰变纲图见图1

[1]

。它通过电子俘获衰变到

125

Te的激发态（其中产生的27.5 keV

X射线，分支比为68.5%），然后经

跃迁（发射35keV

，分支比为6.4%）或发射内转换电子（也产生上述

X射线，分支比为66.0%）退激到基态。

A simple method for absolute assay of medical solution of

125

I is described

which takes advantage of the area in the coincident sum peak in the single crystal NaI (Tl) γ-ray spectrum. Using this method to various measurement conditions

we get accuracy within 1%.

关键词

Keywords

references

Nucl. Data Sheets , 7 , 5 , ( 1972 ).

J. S. Eldridge et al ., Nucleonics , 22 , 6 , 56 ( 1964 ).

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