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用伴随粒子法测量T(
d,n
)α反应中子源强,总误差可达±1.8%。对反应的α谱随入射氘能的变化、金硅面垒型半导体探测器在辐射场中的损伤作了观测。
T. R. Fewell , Nucl. Instr. Meth. , 61 , 61 ( 1968 ).
J. Benveniste et al ., Nucl. Instr. Meth. , 7 , 306 ( 1960 ).
K. E. Larsson , Arkiv for Fysik , 9 , 18 , 329 ( 1955 ).
中国科学院原子能研究所 , 射线物理测量方法专业会议资料汇编 P. 111 .
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